首页
产品中心
方案中心
软件中心
开放实验室
新闻中心
关于我们
010 - 6431 1126
产品中心
专业的半导体集成商,专业的测量技术
首页
<
产品中心
<
封装测试设备
产品目录
MPI探针台
手动探针台
半自动探针台
全自动探针台
高功率探针台
硅光探针台
太赫兹探针台
TP80 顶部测试探针台
DP80 Die测试探针台
FP80 倒装测试探针台
ST800分选机
AS800自动视觉检测设备AOI
LAKESHORE低温&磁场探针台
LONGSIGHT万里眼
ExWave TS系列高速实时示波器
RC系列高速差分探头
OP系列高速光电探头
SA系列信号与频谱分析仪
KEYSIGHT测试仪表
矢量网络分析仪
KEYSIGHT测试仪表
FARRAN毫米波扩频模块
全部产品
概伦电子
ESD&TLP静电产品HANWA
AMCAD Pulsed IV测试系统
SEMICS&Opus量产探针台
霍尔效应测试系统
封装测试设备
耗材
MPI 射频探针
MPI差分射频探针
MPI TITAN™ Multi-Contact Probes
MPI 校准件
MPI QAlibria® 校准软件
MPI 射频线缆及组件
NorCom激光粗细检漏系统
适用于气密性封装器件如TR 模块、混合电路、微波、光纤器件、继电器等
QFI 热失效分析系统
多功能光子/红外热点/激光扫描失效分析系统,可升级多探头方案
WEST.BOND键合机
用于高可靠多芯片组装的集成电路和半导体器件的芯片返修
德国LS激光修阻系统
新激光源/新的检流计扫描仪设置/改进的激光束镜