ES622 系列 TLP 脉冲 IV 曲线系统是一种先进的 IV 曲线表征系统，旨在模拟 ESD 事件 （TLP/VF-TLP/HMM/HBM/MM 脉冲）及监控设备（半导体、分立器件、电路模块等）的高 功率时域特性。相比上一代的 ES620 型号，ES622 TLP 系统规格更高，功能更多，扩展能力 更强，软件体验更佳。 传输线脉冲(TLP)测试功能旨在满足最新的 ANSI/ESD STM5.5.1 测试标准，将高质量矩形脉 冲注入被测器件，并记录器件两端的电压和通过的电流。测试软件可自动绘制脉冲 IV 曲 线，并在纳秒级时间窗口内表征器件的瞬态响应。设备集成了先进的自动器件故障检测方 法，例如：DC 单点检测（V 或 I）、静态 IV 曲线、熔断、击穿和偏置源波动。 VF-TLP 测试旨在模拟 CDM 类型的 ESD 事件，并捕捉高速（例如 <100 ps="">上升时间）ESD注入下 DUT 两端的电压和通过 DUT 的电流。这种测试可用于研究器件的响应速度和峰值钳 位电压等特性。 人体金属模型(HMM)测试功能是 IEC61000-4-2 系统级 ESD 的替代测试方法。它为低阻值设 备提供了理想的等效波形，并消除了组件或晶圆级测试的许多 IEC 枪测试问题，例如可重复 性差、枪尖注入位置不精确、阻抗不匹配、来自非屏蔽继电器的 EMI 干扰以及需要大接地平 面和耦合平面的特殊装置要求等。