CFT-PRO高性能版涵盖了电学器件的全部应用测试，可控制半导体参数分析仪、功率器件分析仪、源表、阻抗分析仪等设备，涵盖直流IV，CV, 高电压，大电流、射频参数等测试，可测器件包含BJT、MOSFET、太阳能电池、滤波器、功分器、放大器、电容器、功率器件、存储器、忆阻器、有机无机薄膜、光电等测试应用，可控制半自动、全自动探针台实现晶圆的WAT和CP测试，软件可以灵活扩展应用，并可适配全系列可通讯的电测仪表，如电源、纳伏表、数字万用表、信号源、示波器等

软件可一次进行多项配置测试，可配合矩阵/多路开关实现多器件测试等功能，可实现全MAP测试，和抽样测试

自动测试界面可实时显示测试数据曲线和测试报表，测试进度、合格率等统计数据，可随时暂停测试

数据查看功能可以查看所有已经测试过的晶圆数据，点击左下角‘refresh’按键以后，软件会自动加载历史测试晶圆数据库文件。选中要添加的文件，点击鼠标邮件菜单“AppendWafermap”后会将选中文件的map图显示在主界面上。点击display data后进入数据查看界面

该界面中可查看当前晶圆的所有测试数据和测试信息，通过鼠标左键点击对应的die或者在右上方输入X和Y的左边值，点击search后即可查看当前器件的测试值

在该界面下，点击菜单’view->HistogramDisplay’可查看当前晶圆的各项测试数据统计分布图