系统设备组成：Keysight 网络分析仪/半导体参数分析仪/LCR表/测试软件+测试夹具。
系统测试方法：主要包括平行板电容法、同轴探头法、波导法、自由空间法、谐振器法。
主要测试应用：可覆盖固体，液体，粉末，薄膜材料，磁环等的测试需求，可提供材料电磁特性、晶体管、MOSFET、IGBT、第三代半导体的测试能力。
