硅光在片测试方案
发布时间：2025-09-05
发布人：中科睿华
分类：方案中心
系统设备组成：Keysight LCA光器件分析仪+MPI 硅光探针台+中科睿华自动化测试软件
系统主要功能：可以完全自动化的进行光探针耦合对准以及所需各种光学参数的自动化测试，能够极大提高测试效率、测试精度及测试可靠性。可提供-60~300℃测试环境，用来表征不同温度下芯片的性能特征。
主要测试参数：插入损耗IL、偏振相关损耗PDL、输出光功率、DC响应度、PD暗电流、偏振消光比PER、直流共模抑制比、频响特性、调制带宽、群时延、阻抗匹配/回波损耗、阶跃和脉冲响应等关键指标。
