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霍尔效应测试系统
主要特征

1、电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率测试遵从美国材料与试验协会ASTM-F76标准;

2、电阻测量范围宽:10nΩ(低电阻选件)~100GΩ(高阻系统);

3、使用插入式样品卡,样品安装方便,同时提供四探针卡,一定程度上免去制作电极的麻烦;

4、标准系统一次可以同时测量2个样品,增加选件可同时测量4个样品;

5、测量和计算过程由软件自动执行,3分钟即可得到一个霍尔效应数据;

6、提供长时间高稳定性的磁场,24小时稳定性<±0.5g,并且磁场能够平滑过零;

7、电磁铁电源内置高斯计,磁场从0到1kG只需20S即可控制在0.1G以内;

8、选择温度选件,可以进行不同温度下的霍尔效应和电阻的测量。

霍尔效应测试系统
产品概述
技术指标
产品规格参数

霍尔效应测试系统是集霍尔效应、磁电阻、变温电阻、I-V特性等测试于一体的全自动化测试系统。系统全面地考虑了集成性、屏蔽抗干扰能力、测试电路和样品阻值范围匹配性等用户经常忽略的问题。选取了美国Keithley的电测量仪表,磁场根据用户需要采用电磁铁或无液氦超导磁体,配备灵巧的测量样品杆和快速插拔样品卡,加上全自动化的专用测试软件,操作更加人性化,能让用户快速方便地进行电输运测试,并获得准确可靠的数据。

此外,系统还有多种高低温温度环境选件,是广大科研工作者对材料进行电输运性质研究的有力工具。


1、功能:可以进行霍尔效应、R-H特性、R-T特性和I-V特性的测量。

2、可得出参数:方块电阻、电阻率、霍尔系数、霍尔迁移率、载流子浓度和导电类型。

3、曲线绘制:

I-V特性:不同磁场和不同温度下的I-V特性曲线;

R-H特性:固定温度,电阻随着磁场变化的特性曲线;

R-T特性:固定磁场,电阻随着温度变化的特性曲线。

4、软件信息:

支持32bit和64bit的Windows系统;

内建数据库,历史数据备份,便于寻回;

模块化设计,功能扩展方便;

硬件无缝对接,支持15个厂家的60多种仪器。

5、无液氦超导磁场低温平台:

同时实现强磁场和极低温两种实验环境,磁场范围5T~18T,温度范围1.6K~400K;

样品腔内径:25mm/30mm/50mm;

平台工作时不需要消耗液氦,运行成本低;

设计独特的空气锁装置,能在极低温时拔出样品杆以更换样品,提高了测试效率。

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