DP80 Die级测试探针台 - DP80 Die测试探针台 - 中科睿华科技（北京）有限公司

DP80 Die级测试探针台

主要特征

1、多样化的机种构架，支持多种物料测试形式如VCSELs, EELs,或封装级元件测试

2、飞快的点测及挑拣速度能大幅降低测量费用

3、机台具备精准温控能力，不论是高低温或负温测量皆可轻松对应

4、多重量测站点，可依据测试需求随意切换测量参数如LIV / 近场/远场

DP80 Die级测试探针台

产品概述

产品规格参数

无论是VCSEL， EEL， PD还是LED， MPI广泛的Die probe系列都能提供高性能的系统性能，以满足测试和测量要求。凭借其灵活的系统可配置选项，快速的探针和测试周期时间以及多站点测试能力，MPI模具探针将您的生产提升到一个新的水平，并将成为您测试各种光子学器件的完美系统。

主要测试内容

LED CSP 应用

VCSEL Die / Package 测试

EEL Die / Package 测试

混合器件测试

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